网通社科技快报
imec报告预测2035年超50%高性能芯片互连将采用集成光方案
imec最新报告指出,AI算力爆发正推动光互连技术路线发生根本性变革:为应对多太比特每秒接口、亚微秒延迟与超高能效需求,光互连需从可插拔模块逐步演进至封装内共集成,最终实现晶圆级3D集成光学。当前铜互连在毫米级以上距离已逼近物理极限,功耗与信号完整性成为AI系统扩展瓶颈;而光互连凭借距离无关性、低功耗与抗串扰优势成为破局关键。报告明确三阶段路径:第一阶段为可插拔光模块(如QSFP-DD),支撑400G/800G骨干互联;第二阶段为共封装光互连(CPO),预计2026–2028年随2nm/1.8nm制程量产;第三阶段即3D集成光学,光器件直接异质集成于硅晶圆或嵌入多芯片堆叠结构中,目标2030年前后落地。该方案有望在2030年后实现超100 Gbps/mm²带宽密度,功耗降至电互连1/10以下,延迟压缩至亚微秒级。关键技术挑战包括III-V族材料与硅的高良率键合、三维波导低损耗设计及片上激光器稳定性提升。产业界加速布局:英特尔、台积电推进硅光代工;Ayar Labs、思科聚焦CPO产品化;NVIDIA已在Blackwell后续架构中纳入光互连考量。报告强调未来为“光电协同”架构——芯片内与die-to-die用先进电互连,die-to-package及以上层级由光互连主导。标准化与测试仍是难点,IMEC正联合厂商推动光I/O协议与封装接口规范。据预测,到2035年,超过50%的高性能计算芯片间互连将采用某种形式的集成光方案。