静默数据错误挑战芯片测试策略，SDE检测成行业新焦点 随着芯片设计规则缩小、复杂度提升及芯片堆叠技术普及，静默数据错误（SDE）对服务器和AI训练等长时程运算的影响日益显著。文章分析了SDE的特性、检测难点及其对芯... 2026年09月11日 半导体/芯片 #机队维护策略 #芯片故障
