KAIST团队突破二维半导体量产瓶颈,400次生长仅3次失败,良率99.3%

韩国科学技术院(KAIST)与初创公司TDS Innovation提出“刻蚀通量介导的单一中心成核”工艺,在2cm²基底上实现400个图案位置中397个成功生长单晶二硫化钼,良率达99.3%,为二维半...

半导体/芯片

芯片制造正面临物理极限的挑战,硅基晶体管尺寸逼近1纳米节点后,功耗与漏电问题日益严峻。在此背景下,厚度仅为单原子层的二维半导体材料被广泛视为下一代晶体管的潜在替代者。然而,从实验室样品到晶圆级量产,长期横亘着一道难以逾越的鸿沟:如何在指定位置可控、高一致性地生长高质量单晶?10月12日,韩国科学技术院(KAIST)联合初创企业TDS Innovation在《自然》期刊发表突破性成果,首次实现接近工业级良率的二维半导体选择性单晶生长——在2平方厘米基底上400个预设图案位置中,有397个成功形成单晶,失败率仅0.75%,良率高达99.3%。

二维半导体的核心优势在于其原子级厚度。以二硫化钼(MoS₂)为代表的过渡金属硫族化合物具备合适的带隙(约1.8 eV),可作为开关器件的基础材料;相比之下,石墨烯虽具超高载流子迁移率,却因无带隙而无法直接用于逻辑晶体管。但长期以来,其产业化受阻于成核过程的随机性:在化学气相沉积(CVD)过程中,晶体倾向于在衬底表面多个位点同时成核,随后各自长大并相互碰撞,形成大量晶界。这些晶界不仅显著降低载流子迁移率,还导致器件间性能波动剧烈,严重制约集成应用。

KAIST团队提出的解决方案名为“刻蚀通量介导的单一中心成核”(Etching Flux-mediated Single-Center Nucleation, EF-SCN)。该方法反向思维:不主动引导晶体在某处生长,而是系统性抑制非目标区域的成核。具体而言,研究人员在预设生长区域四周构建一圈氧化物阻挡层(如SiO₂或Al₂O₃),加热时该氧化物缓慢分解释放氧气,氧气横向扩散形成均匀的“刻蚀通量”。这一通量对新生晶核具有选择性刻蚀作用——除几何中心外,其他位置的微小晶核均被抑制消除,最终仅允许一个晶核在图案正中心稳定发育为完整单晶。

图中左侧为场效应晶体管结构示意图,右侧为实际制备的2英寸晶圆级阵列,每个方块对应一个独立生长位点。插图为二硫化钼单层的原子级显微图像,清晰显示周期性六方晶格结构。该工艺在标准硅基衬底上完成,兼容现有CMOS产线前段流程。

实验验证表明,基于EF-SCN工艺制备的MoS₂场效应晶体管(FET)展现出优异电学性能:室温下载流子迁移率超过60 cm²/V·s,高于此前报道的选择性生长MoS₂晶体管水平;开关比达10⁸,满足数字逻辑电路基本要求。更关键的是,器件参数离散度大幅收窄——400个晶体管的阈值电压标准差小于0.1 V,证明该方法有效解决了批次一致性难题。

该突破的意义不仅在于提升单晶质量,更在于为三维异构集成铺平道路。二维材料的超薄特性使其天然适合垂直堆叠:逻辑单元与存储单元可上下叠放,缩短互连距离,降低数据搬运能耗;互补场效应晶体管(CFET)结构亦可借此实现n型与p型晶体管的垂直集成,进一步压缩芯片面积。IBM与英特尔已展示基于硅的CFET原型,而二维半导体有望将堆叠密度提升至更高层级。TDS Innovation联合首席执行官Kibum Kang指出,团队下一步将聚焦于在更大尺寸晶圆(如200mm)上实现位置精确控制的均匀单晶阵列,并探索与硅基CMOS的异质集成路径。

值得注意的是,尽管良率指标亮眼,二维半导体距离大规模商用仍有数道关卡待跨越。首先是材料体系拓展:目前EF-SCN主要验证于MoS₂,而WS₂、WSe₂等其他过渡金属硫族化合物是否适用尚需验证;其次是热稳定性与界面工程:单原子层在后续高温工艺(如金属化、钝化)中易发生退化或污染;最后是成本与产能:CVD设备改造、前驱体纯度控制及良率维持均需产线级验证。

TDS Innovation方面透露,公司目标是在2030年前后推动二维半导体技术进入商业化阶段。考虑到AI算力需求持续爆发,尤其是具身智能与机器人对低功耗、高密度芯片的迫切需求,实际落地时间存在提前可能。但产业界普遍认为,真正替代硅仍需十年以上周期——这并非技术停滞,而是新材料从“能做”到“可靠、便宜、可扩展”的必然演进路径。

EF-SCN工艺原理示意图

与此同时,全球半导体产业链的其他环节也在同步突破。例如,国内高端封装材料领域,江苏南京高淳的北冶功能材料已实现FeNi42镍基引线框架材料的稳定量产,打破日本企业长期垄断,成为全球第二大供应商;而在晶圆代工侧,武汉新芯等企业正加速推进12英寸特色工艺平台建设,聚焦NOR Flash与三维异构集成,服务于车规与AI芯片需求。这些进展共同指向一个趋势:未来芯片竞争不再是单一材料或工艺的胜负,而是全链条协同创新的系统能力较量。

图示为EF-SCN核心机制:氧化物屏障释放氧通量(蓝色箭头),在图案边缘形成抑制区(灰色阴影),仅中心区域允许成核(红色点)。该设计巧妙利用热力学与动力学耦合,避免了传统光刻掩模或局部催化等复杂手段。

二维半导体的产业化之路依然漫长,但KAIST此次成果标志着“可控成核”这一关键瓶颈已被实质性突破。当单晶生长从概率事件变为确定性过程,二维材料从实验室走向晶圆厂的最后一公里,终于有了清晰的路线图。